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TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性

点击次数:1992 发布时间:2017-07-21

首先将两个支撑点调整到合适的位置,以便支撑样品的长度,例如30mm。为了对比的目的,该位置应该记录下来。然后将其安装到承重平台上。将承重平台安装到主机上并调整,直到上刀具对准中心位置,旋紧承重平台。样品从包装袋中取出,选择所需测试指标(zui大正力和正面积),准备进行实验。

 

TA.XTC质构仪配有三点弯曲探头(HDP/3PB),用TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性的原理是一旦TA.XTC质构仪探头的感应力达到,曲线开始表达出样品被探头下压过程的效果。曲线zui大压力数值可以表达样品的破裂强度。其他可表明的数字还有:破裂距离和斜率。破裂距离表明样品的脆性,显示样品能抗多长距离后被破坏。斜率表明样品的硬度,斜率越高,硬度越大。

之后是分析曲线zui大正峰值与正面积:

1种样品,进行20次重复的分析结果(+/-SD.)(不合适数据需剔除),其硬度的zui大正峰值是458.3 ± 52.6,其脆性的正面积是0.38 ± 0.05。

在用TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性时应该注意的是:为了实验数据可以对比,必须确保样品的尺寸和支撑点的距离。样品如果比较宽,要求的破裂力也比较大。

另外,储存、包装和处理样品的条件的变化,都会影响实验结果。这些条件应该是确定的保持连续的。

 

 

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